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技術(shù)文章

表面缺陷檢測(cè)與控制--Kalix(一)

表面缺陷檢測(cè)與控制--Kalix(一)針對(duì)圓形零件的控制及測(cè)量

 

檢測(cè)圓形零件的軟件程序:

  • 內(nèi)徑和外徑的*大值,*小值及中間值
  • 徑向截面徑的*大值,*小值及中間值
  • 圓度測(cè)量
  • 單次測(cè)量時(shí)間少于0.5秒
  • 用編碼及描述來(lái)管理每種零件
  • 可一次測(cè)量多個(gè)產(chǎn)品
  • 截面徑變化的測(cè)量
  • 所有尺寸系列柱狀圖統(tǒng)計(jì)報(bào)告(x-條)
  • 所有尺寸的CP和CPK統(tǒng)計(jì)報(bào)告
  • 打印和保存管理
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